กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) (อังกฤษ: Scanning Electron microscope) ประดิษฐ์ขึ้นครั้งแรกเมื่อปี พ.ศ. 2481 โดยเอม วอง เอนเดนนี ใช้ศึกษาโครงส้รางภายนอกของวัตถุ ลักษณะผิวภายนอกของเซลล์ ผิวโลหะ มองเห็นความลึกภาพปรากฏบนจอคอมพิวเตอร์เป็นภาพ 3 มิติ มีกำลังขยายสูงหลายหมื่นเท่า
อ่านบทความฉบับสมบูรณ์ได้ที่ http://th.wikipedia.org/wiki/กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด
|
